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產(chǎn)品展示
專業(yè)成就卓越，創(chuàng)新推動進步，品質(zhì)決定未來

  • 激光掃描系統(tǒng)

    激光掃描系統(tǒng)該儀器被設(shè)計用于工藝和材料的質(zhì)量監(jiān)控，例如單晶或多晶硅。多晶硅磚切割標準的自動輸出。能夠根據(jù)爐子的輸出質(zhì)量進行單獨的爐子監(jiān)控進行優(yōu)化和決定投資。MDPpro是多晶硅磚生產(chǎn)商以及爐子技術(shù)生產(chǎn)...

  • 激光橢偏儀

    激光橢偏儀SE 800 PV是分析結(jié)晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具。可以測量單層薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiN...

  • ICP-RIE等離子刻蝕機

    ICP-RIE等離子刻蝕機三螺旋平行板天線(PTSA)等離子源是SENTECH等離子體工藝設(shè)備的屬性。PTSA源能生成具有高離子密度和低離子能量的均勻等離子體。它具有高耦合效率和非常好的起輝性能，非常...

  • X射線探傷機

    X射線探傷機公司制造X射線工業(yè)設(shè)備用于控制產(chǎn)品質(zhì)量，如應(yīng)用于汽車、航空和食品等部門。此外，公司制造的X射線設(shè)備也應(yīng)用于醫(yī)療和安全部門。每個產(chǎn)品在國內(nèi)設(shè)計制造，從結(jié)構(gòu)到特殊的圖像處理軟件都是使用現(xiàn)有的的...

  • 掃描電子顯微鏡SEM

    掃描電子顯微鏡SEMEVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借...

  • 掃描電子顯微鏡SEM

    掃描電子顯微鏡SEM借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時...

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北京瑞科中儀科技有限公司
北京瑞科中儀科技有限公司專注半導(dǎo)體材料研究分析設(shè)備的研發(fā)和應(yīng)用。專業(yè)的團隊，專精的服務(wù)，提供理想的解決方案。我們長期專注于半導(dǎo)體材料研究與分析設(shè)備的經(jīng)銷和代理，為高校、企業(yè)科研工作者提供專業(yè)的分析解決方案。以專業(yè)技能為導(dǎo)向，用科技來解決用戶在科研中遇到的難題。專業(yè)的技術(shù)工程師和科研工作者進行現(xiàn)場演示和技術(shù)交流，打消顧慮，彼此協(xié)作，為我國的科研領(lǐng)域譜寫新篇章。北京瑞科中儀科技有限公司長期代理銷售供應(yīng)多種分子材料的研究分析設(shè)備，其中包括但不限于掃描電子顯微鏡、感應(yīng)耦合等離子體化學氣相沉積系統(tǒng)、離子束...
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北京瑞科中儀全體員工培訓合成儀如何使用

頭條北京瑞科中儀全體員工培訓合成儀如何使用2024-7-15

關(guān)于北京瑞科中儀全體員工培訓如何使用合成儀的內(nèi)容，雖然具體的合成儀型號和使用方法未在參考文章中明確提及，但我可以基于一般的合成儀使用步驟和注意事項，結(jié)合其他類似設(shè)備的培訓...
  • 探索微米世界：掃描電鏡的奧妙
  • 北京瑞科中儀全體員工培訓合成儀如何使用
  • 北京瑞科中儀受邀請參加第二十一屆中國國際科學儀器及實驗室裝備展覽會

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    深硅刻蝕技術(shù)開啟微納加工新篇章

    在微機電系統(tǒng)和納米技術(shù)的快速發(fā)展中，深硅刻蝕技術(shù)以其加工精度和深遠的應(yīng)用前景，成為現(xiàn)代微納加工技術(shù)的重要組成部分。這...

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    尼康E100教學級生物顯微鏡使用的不規(guī)范操作及正確做法

    在尼康E100教學級生物顯微鏡的使用過程中，一些常見的不規(guī)范操作包括：不規(guī)范操作不清潔顯微鏡：不規(guī)范：使用顯微鏡前或...

  • 2024

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    掃描電鏡的工作原理及應(yīng)用

    掃描電鏡（SEM）是一種強大的科學工具，用于提供納米至微米級別高分辨率的表面圖像。它廣泛應(yīng)用于材料科學、生物學、冶金...

  • 2024

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    聚焦離子束掃描電鏡系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及應(yīng)用

    聚焦離子束掃描電鏡（FocusedIonBeamScanningElectronMicroscope，簡稱FIB-S...
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